手機可靠性試驗簡(jiǎn)介

近幾年來(lái)，中國的移動(dòng)通信事業(yè)發(fā)展速度很快，目前網(wǎng)絡(luò )規模和用戶(hù)數量已居世界*。隨著(zhù)手機用戶(hù)數量的增加，手機質(zhì)量也逐漸成為人們關(guān)心的話(huà)題。根據前幾年的用戶(hù)投訴情況來(lái)看，投訴zui多的還是手機的可靠性問(wèn)題。影響手機可靠性的因素很多，這些問(wèn)題可以在日常的使用中發(fā)現，也可以通過(guò)對手機進(jìn)行可靠性試驗來(lái)發(fā)現。

手機可靠性試驗的目的

產(chǎn)品可靠性是設計和制造出來(lái)的，但必須通過(guò)試驗予以驗證。在手機的研制階段，為了保證手機具有一定的可靠性水平或提高手機的可靠性，要通過(guò)可靠性試驗暴露手機的缺陷，進(jìn)而進(jìn)行分析，并采取有效糾正措施，使手機的可靠性得到增長(cháng)。

在設計定型前，對手機進(jìn)行鑒定試驗，驗證手機是否達到規定的可靠性指標。對批量生產(chǎn)的手機在交付使用時(shí)，要通過(guò)驗收試驗來(lái)對手機的可靠性進(jìn)行驗收。在手機的使用階段，為了了解手機使用的可靠性水平，要進(jìn)行手機試用試驗等?？梢?jiàn)，可靠性試驗貫穿于手機的全壽命之中，可靠性試驗是評價(jià)手機可靠性的一個(gè)重要手段。

可靠性影響因素

影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境。

環(huán)境因素多種多樣：溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風(fēng)、雷、電、鹽霧、砂塵、振動(dòng)、沖擊、噪聲、電磁輻射等，都不可避免地對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。有資料顯示，電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應引起：其中由溫度引起的占40%，由振動(dòng)引起的占27%，由濕度引起的占19%，其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障。環(huán)境試驗作為可靠性試驗的一種類(lèi)型已經(jīng)發(fā)展成為一種預測產(chǎn)品使用環(huán)境是如何影響產(chǎn)品的性能和功能的方法。

在手機投入市場(chǎng)之前，環(huán)境試驗被用來(lái)評估環(huán)境影響手機的程度，當手機的功能受到了影響，環(huán)境試驗被用來(lái)查明原因，并采取措施保護手機免受環(huán)境影響以保護手機的可靠性，環(huán)境試驗也被用來(lái)分析手機在實(shí)際使用過(guò)程中出現的缺陷以及新產(chǎn)品的改進(jìn)。

嚴格意義上講，只有通過(guò)了環(huán)境適應性試驗，滿(mǎn)足規定的條件，才能進(jìn)行可靠性試驗，環(huán)境適應性試驗對于保證手機的可靠性是非常有效的。

手機環(huán)境與可靠性試驗的內容

任何一款手機新品的上市，都需要經(jīng)過(guò)授權檢驗單位的嚴格測試。這些測試內容中非常重要的一項就是手機的環(huán)境適應性試驗及部分部件的壽命試驗。

在目前的標準文件中，對環(huán)境試驗所規定的環(huán)境條件通常比手機使用所處的環(huán)境要嚴酷的多，并且更有代表性。

由于我國幅員遼闊，地域廣大，南北溫差大，因而每一種手機都要經(jīng)過(guò)-10℃和+55℃各4h的工作溫度試驗；還要進(jìn)行溫度+40℃、相對濕度92%Rh、連續48h左右的恒溫恒濕試驗，試驗后射頻指標和功能均需符合標準要求。

這三項試驗模擬手機在存儲或使用過(guò)程中可能遇到的氣候環(huán)境條件，考察手機在這些環(huán)境條件中外殼材料是否發(fā)生硬化或脆化導致出現裂紋，電子器件(電阻、電容等)性能是否改變，溫度梯度不同和不同材料的溫度變化系數是否導致電子線(xiàn)路的穩定性發(fā)生變化，是否會(huì )發(fā)生潮氣與電路板相互作用產(chǎn)生腐蝕層等，用于評價(jià)手機在低溫、高溫、濕熱情況下整體性能是否會(huì )下降。

另外，手機還需要在隨機振動(dòng)條件下進(jìn)行性能測試，在跌落高度為1.0m、每個(gè)面向下跌落2次、6面共計12次跌落在剛性表面上的跌落試驗后進(jìn)行功能檢查。

機是隨身攜帶的產(chǎn)品，而人又經(jīng)常不斷地移動(dòng)，因此在振動(dòng)條件下進(jìn)行在線(xiàn)性能測試是為了考察手機在移動(dòng)的環(huán)境中能否正常工作，而跌落試驗是為了檢驗手機對于用戶(hù)的意外使用不當是否有一定的保護性。

除此之外，直板手機需對按鍵進(jìn)行壽命試驗，折疊或滑蓋手機除需做按鍵壽命試驗外，還需進(jìn)行翻蓋或滑蓋壽命試驗，要求按鍵壽命10萬(wàn)次，翻蓋或滑蓋5萬(wàn)次（這相當于一部手機每天接打50次，連續使用約3年），此后測試手機的功能是否正常。

上述試驗需持續較長(cháng)時(shí)間，只有通過(guò)這些試驗全部合格的樣品才能獲得通過(guò)。