USB應用中的電磁兼容保護設計

USB端口對PC外設的發(fā)展起到了革命性的推動(dòng)作用，并且正變得越來(lái)越流行，比如在采集測量數據或在機器上安裝軟件更新等應用中就非常常見(jiàn)。作為用于數據傳輸的一種總線(xiàn)系統，只要有移動(dòng)設備連著(zhù)的地方就有它的身影。雖然在日常生活中使用的連接器看起來(lái)非常結實(shí)，但USB應用開(kāi)發(fā)人員仍然必須重視這些接口的保護。

在Intel公司的“高速USB平臺設計指南"中，甚至提高了考慮USB端口易感性因素的重要性。Intel建議用電流補償型扼流圈抑制EMI，再用其它元件防止靜電放電(ESD)。電子設備經(jīng)常會(huì )遭受靜電放電。靜電放電脈沖電壓可能高達30kV，因此對所有類(lèi)型的集成電路來(lái)說(shuō)都是非常危險的。目前有些IC對靜電放電來(lái)說(shuō)是“安全的"，但這種安全性只是對一小部分潛在威脅來(lái)說(shuō)是有保證的。日常操作表明：額外保護是的。只有采取外部保護措施才能開(kāi)發(fā)出整塊電路板不受靜電放電影響以及高度可靠的產(chǎn)品。專(zhuān)門(mén)的抑制措施同樣也是必需的。無(wú)線(xiàn)聯(lián)網(wǎng)的電子設備如今是遍地開(kāi)花，它們的數量正在與日俱增。

使自己的產(chǎn)品不受輻射干擾的影響非常重要。只有考慮了預期的干擾形式，才能在設計中及時(shí)集成必要的抑制元件，進(jìn)而縮短開(kāi)發(fā)周期。我們知道，自身產(chǎn)品的輻射型干擾也必須處于某個(gè)電平之下。這可以通過(guò)EMC測試實(shí)驗室進(jìn)行很精確的評估。如果產(chǎn)品沒(méi)有通過(guò)這種測試，那么立馬返工的成本將超過(guò)抑制元件成本的好幾倍。